کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10364812 871824 2005 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Carbon hard masks for etching sub-90 nm structures
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Carbon hard masks for etching sub-90 nm structures
چکیده انگلیسی
Carbon hard mask structures have been used to etch a variety of materials typically used in sub 90 nm DRAM manufacture. The results indicate that carbon hard masks can be used very effectively to structure oxide, nitride and metal films giving the CD performance required for the technologies being investigated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 81, Issue 1, July 2005, Pages 156-161
نویسندگان
, , , , , , ,