کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10406978 892819 2016 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Molecular dynamics simulation of the early stages of self-interstitial clustering in silicon
ترجمه فارسی عنوان
شبیه سازی دینامیکی مولکولی مراحل اولیه خوشه بندی خوشه ای در سیلیکن
کلمات کلیدی
ترجمه چکیده
ما مراحل اولیه خوشه بندی خودستایی در سیلیکون را با استفاده از تکنیک های شبیه سازی دینامیکی مولکولی مطالعه کرده ایم. ما نمونه های سیلیکونی بیش از 200،000 اتم را تولید کرده ایم که در آن 0.5٪ غلظت اضافی خودستایی را معرفی کردیم. سپس نمونه ها در چندین درجه حرارت داده شدند. در طی شبیه سازی ها، شکل گیری خوشه های بینابینی با ساختارهای مختلف اتمی که از کلاسترهای کروی و آمورف مانند، به تنظیمات پراکنده شدید نظیر زنجیرهای (110)، نقص های مثلثی و حلقه های ناهماهنگ و (100) } نقص های فلزی. این آخرین نوع نقصها، در حالی که در ژرمانیم رایج است، تا سال اخیر در سیلیکون مشاهده نشده است. مورفولوژی خاصی از خوشه های بین درختی شکل گرفته است که با دمای آنیلینگ مرتبط است، همانطور که در آزمایشات مشاهده می شود. از شبیه سازی های پویایی مولکولی، ما مکانیزم های اتمی را که منجر به تشکیل و رشد خوشه های بینابینی می شوند، با توجه ویژه به نقص های جدید {100} فلزی پیدا کرده ایم.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
چکیده انگلیسی
We have studied the early stages of self-interstitial clustering in silicon using molecular dynamics simulation techniques. We have generated silicon samples of over 200,000 atoms where we introduced a 0.5% extra concentration of self-interstitials. Then samples were annealed at several temperatures. During the simulations we observed the formation of interstitial clusters with different atomic structures, ranging from spherical and amorphous-like clusters, to highly ordered extended configurations such as (110) chains, {111} rod-like defects and dislocation loops, and {100} planar defects. This last type of defects, while common in germanium, have not been observed in silicon until very recently, in ultra-fast laser annealing experiments. The particular morphology of formed interstitial clusters is found to be related to the annealing temperature, as it is observed in the experiments. From the molecular dynamics simulations we have analyzed the atomic mechanisms leading to the formation and growth of interstitial clusters, with special attention to the newly found {100} planar defects.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science in Semiconductor Processing - Volume 42, Part 2, February 2016, Pages 235-238
نویسندگان
, , , , , ,