کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10407261 | 892896 | 2005 | 15 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Molecular dynamics study of copper trench filling in damascene process
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The trench filling of depositing copper atoms on the titanium layer in a damascene process was studied using molecular dynamics simulation with the embedded atom method (EAM) as interaction potential for the present alloy metal system. A three-layer trench model consisting of the barrier, thermal control, and fixed layers was used. The effects of different process parameters on the trench-filling morphologies and microstructures including incident energies of depositing atoms and substrate temperatures were investigated. The present results using invariance-preserving alloy model are discussed in terms of void formation, coverage percentage, and alloy fraction and compared with simple arithmetic average alloy model.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science in Semiconductor Processing - Volume 8, Issue 5, October 2005, Pages 587-601
Journal: Materials Science in Semiconductor Processing - Volume 8, Issue 5, October 2005, Pages 587-601
نویسندگان
R.T. Hong, M.J. Huang, J.Y. Yang,