کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10411616 894761 2011 9 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Optimization of SiGe bandgap-based circuits for up to 300 °C operation
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Optimization of SiGe bandgap-based circuits for up to 300 °C operation
چکیده انگلیسی
► Devices in commercial bulk SiGe BiCMOS platform characterized to demonstrate acceptable performance up to 300 °C. ► Proven SiGe BGR circuit designed for wide temperature operation verified to work up to 300 °C. ► High temperature device and circuit level compensation techniques shown to significantly improve SiGe BGR performance from −225 °C to 300 °C. ► Non-optimized SiGe temperature sensor circuit shown to compare favorably with commercially available temp sensors up to 225 °C.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 56, Issue 1, February 2011, Pages 47-55
نویسندگان
, , , , ,