کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10411616 | 894761 | 2011 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Optimization of SiGe bandgap-based circuits for up to 300 °C operation
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Devices in commercial bulk SiGe BiCMOS platform characterized to demonstrate acceptable performance up to 300 °C. ⺠Proven SiGe BGR circuit designed for wide temperature operation verified to work up to 300 °C. ⺠High temperature device and circuit level compensation techniques shown to significantly improve SiGe BGR performance from â225 °C to 300 °C. ⺠Non-optimized SiGe temperature sensor circuit shown to compare favorably with commercially available temp sensors up to 225 °C.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 56, Issue 1, February 2011, Pages 47-55
Journal: Solid-State Electronics - Volume 56, Issue 1, February 2011, Pages 47-55
نویسندگان
D.B. Thomas, L. Najafizadeh, J.D. Cressler, K.A. Moen, N. Lourenco,