کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10707144 | 1023631 | 2011 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Improvement of structural and electrical properties of Cu2O films with InN epilayers
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠There is a 30° in-plane rotation between Cu2O and InN, which leads to a smaller lattice mismatch. ⺠As-oxidized Cu2O on InN presents a higher resistance and a lower electron concentration. ⺠The conduction-type of Cu2O converts from n- to p-type, after annealed at 500 °C in vacuum. ⺠The Cu2+ absorption of the Cu2O/InN determines the conductive-type.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 334, Issue 1, 1 November 2011, Pages 46-50
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 334, Issue 1, 1 November 2011, Pages 46-50
نویسندگان
Yang Pan, Zheng Wang, Ting Peng, Kemin Wu, Hao Wu, Chang Liu,