کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
11005828 | 1495654 | 2018 | 21 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Depth profile analyses with sub 100-nm depth resolution of a metal thin film by femtosecond - laser ablation - inductively coupled plasma - time-of-flight mass spectrometry
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی آنالیزی یا شیمی تجزیه
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Depth profile analyses with sub 100-nm depth resolution of a metal thin film by femtosecond - laser ablation - inductively coupled plasma - time-of-flight mass spectrometry Depth profile analyses with sub 100-nm depth resolution of a metal thin film by femtosecond - laser ablation - inductively coupled plasma - time-of-flight mass spectrometry](/preview/png/11005828.png)
چکیده انگلیسی
Depth profile of SRM NIST 2135c analyzed by fs-LA-ICP-TOFMS.107
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy - Volume 149, November 2018, Pages 176-183
Journal: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy - Volume 149, November 2018, Pages 176-183
نویسندگان
Debora Käser, Lyndsey Hendriks, Joachim Koch, Detlef Günther,