کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
11262692 1840490 2018 19 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Digital image correlation of SEM images for surface deformation of CMOS IC
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Digital image correlation of SEM images for surface deformation of CMOS IC
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 201, 5 December 2018, Pages 16-21
نویسندگان
, , , , ,