کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی ترجمه فارسی نسخه تمام متن
1239461 1495684 2016 5 صفحه PDF سفارش دهید دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Technology development for soft X-ray spectroscopy
ترجمه فارسی عنوان
توسعه تکنولوژی برای طیف سنجی اشعه ایکس نرم
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
سفارش ترجمه تخصصی
با تضمین قیمت و کیفیت
کلمات کلیدی
طیف سنجی اشعه ایکس، لوله اشعه ایکس، آشکارساز ریزش سیلیکون، نیترید سیلیکون، اشعه ایکس
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی آنالیزی یا شیمی تجزیه
چکیده انگلیسی


• Modern X-ray windows and silicon drift detectors have high soft X-ray performance but this capability is not fully utilized.
• We describe a novel concept for high performance X-ray spectroscopic instrument with integrated soft X-ray friendly devices.
• The concept improves the performance of soft X-ray spectroscopy compared to traditional instruments.

X-ray spectroscopy instruments lose part of their performance due to the lack of suitable components for soft X-ray region below 1 keV. Therefore, in the analysis of low atomic number elements including lithium, beryllium, boron and carbon instrument sensitivity is often limited. In this work we describe how the performance of the spectroscopy of soft X-rays is significantly improved when all devices integrated in the spectroscopic instrument are suitable for both soft and hard X-rays. This concept is based on utilizing ultra-thin SiN X-ray windows with proven performance not only as a detector window but also as an X-ray source window. By including a soft-X-ray-sensitive silicon drift detector with efficient surface charge collection in this concept the sensitivity and performance of the instrument is significantly increased.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy - Volume 119, 1 May 2016, Pages 36–40
نویسندگان
, , , ,
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
سفارش ترجمه تخصصی
با تضمین قیمت و کیفیت