کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1248247 | 970417 | 2010 | 18 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Synchrotron radiation-induced total reflection X-ray fluorescence analysis
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی آنالیزی یا شیمی تجزیه
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Synchrotron radiation-induced total reflection X-ray fluorescence analysis Synchrotron radiation-induced total reflection X-ray fluorescence analysis](/preview/png/1248247.png)
چکیده انگلیسی
Synchrotron radiation-induced total reflection X-ray fluorescence (SR-TXRF) analysis is a high sensitive analytical technique that offers limits of detection in the femtogram range for most elements. Besides the analytical aspect, SR-TXRF is mainly used in combination with angle-dependent measurements and/or X-ray absorption near-edge structure (XANES) spectroscopy to gain additional information about the investigated sample. In this article, we briefly discuss the fundamentals of SR-TXRF and follow with several examples of recent research applying the above-mentioned combination of techniques to analytical problems arising from industrial applications and environmental research.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: TrAC Trends in Analytical Chemistry - Volume 29, Issue 6, June 2010, Pages 479–496
Journal: TrAC Trends in Analytical Chemistry - Volume 29, Issue 6, June 2010, Pages 479–496
نویسندگان
F. Meirer, A. Singh, P. Pianetta, G. Pepponi, F. Meirer, C. Streli, T. Homma,