کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1607431 | 1516235 | 2016 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Correlation between microstructural and optical properties of silicon thin films grown onto porous alumina by plasma-enhanced CVD method
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فلزات و آلیاژها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Correlation between microstructural and optical properties of silicon thin films grown onto porous alumina by plasma-enhanced CVD method Correlation between microstructural and optical properties of silicon thin films grown onto porous alumina by plasma-enhanced CVD method](/preview/png/1607431.png)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Alloys and Compounds - Volume 658, 15 February 2016, Pages 337-347
Journal: Journal of Alloys and Compounds - Volume 658, 15 February 2016, Pages 337-347
نویسندگان
F. Laatar, M. Hassen, N.K. Maaloul, K. Khirouni, H. Ezzaouia,