کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1661158 | 1008418 | 2007 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Chemical composition and bond structure of carbon-nitride films deposited by CH4/N2 dielectric barrier discharge
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Carbon nitride films have been deposited by dielectric barrier discharge with a CH4/N2 gas mixture at different conditions. Fourier Transform Infrared (FTIR) spectroscopy, X-ray photo electron spectroscopy (XPS), Raman spectroscopy, Atomic force microscopy (AFM) and ellipsometry were used to systematically study chemical composition, bond structure and surface morphology of deposited films. Various bonds between carbon, nitrogen, hydrogen, and also oxygen were observed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface and Coatings Technology - Volume 201, Issue 14, 2 April 2007, Pages 6437–6444
Journal: Surface and Coatings Technology - Volume 201, Issue 14, 2 April 2007, Pages 6437–6444
نویسندگان
Abhijit Majumdar, Jan Schäfer, Puneet Mishra, Debabrata Ghose, Jürgen Meichsner, Rainer Hippler,