کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1791068 | 1524459 | 2013 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
High resolution synchrotron X-ray studies of phase separation phenomena and the scaling law for the threading dislocation densities reduction in high quality AlGaN heterostructure
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: High resolution synchrotron X-ray studies of phase separation phenomena and the scaling law for the threading dislocation densities reduction in high quality AlGaN heterostructure High resolution synchrotron X-ray studies of phase separation phenomena and the scaling law for the threading dislocation densities reduction in high quality AlGaN heterostructure](/preview/png/1791068.png)
چکیده انگلیسی
⺠High resolution synchrotron X-ray studies of phase separation phenomena. ⺠Scaling law hân variation of screw & edge type dislocation densities with the overgrowth thickness. ⺠RSM of higher orders SXRD and ASXRD reflections reveals the presence of several diffraction peaks. ⺠Synchrotron X-ray study reveals the occurrence of local differences in lattice constants of AlGaN.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 370, 1 May 2013, Pages 51-56
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 370, 1 May 2013, Pages 51-56
نویسندگان
S. Lazarev, S. Bauer, K. Forghani, M. Barchuk, F. Scholz, T. Baumbach,