کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1794841 | 1023709 | 2009 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Electron-carrier generation by edge dislocations in InN films: First-principles study
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Electronic structures of edge dislocations in InN films are studied using the first-principles calculation. We found that dangling-bond states of In atoms localized in the dislocation core are located above the conduction-band bottom and thus supplies the electron carriers to the conduction band of bulk InN, in agreement with the experimental suggestion by Wang et al. [Appl. Phys. Lett. 90 (2007) 151901]. Moreover, it is shown that the Fermi energy in the conduction band has the tendency to be pinned at the energy positions of N-related dangling-bond states.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 311, Issue 10, 1 May 2009, Pages 2767–2771
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 311, Issue 10, 1 May 2009, Pages 2767–2771
نویسندگان
Y. Takei, T. Nakayama,