کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1794907 | 1023709 | 2009 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Hydride vapor phase epitaxial growth of thick GaN layers with in-situ optical monitoring
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
An in-situ optical monitoring system made in our laboratory is set up on the horizontal hydride vapor phase epitaxy (HVPE) equipment. From the growth rate information provided by this system, some basic growth parameters are optimized and high-quality GaN layers are grown. The growth stress of the HVPE GaN layer grown on different templates is also examined through the in-situ optical measuring.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 311, Issue 10, 1 May 2009, Pages 3033–3036
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 311, Issue 10, 1 May 2009, Pages 3033–3036
نویسندگان
J.F. Wang, X.J. Hu, Y.M. Zhang, Y. Xu, H.B. Wang, B.S. Zhang, K. Xu, H. Yang,