کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4970764 | 1450301 | 2017 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Enhancement of printing overlay accuracy by reducing the effects of mark deformations
ترجمه فارسی عنوان
بهبود دقت پوشش روی چاپ با کاهش اثرات تغییر شکل علامت
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
الکترونیک چاپ شده، اندازه گیری، روکش ثبت، تغییر شکل مارک،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 180, 5 August 2017, Pages 8-14
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 180, 5 August 2017, Pages 8-14
نویسندگان
Eonseok Lee, Young-Man Choi, Seung-Hyun Lee, Sin Kwon, Taik-Min Lee, Dongwoo Kang,