کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
4970821 1450303 2017 10 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Modeling of uniform switching RRAM devices and impact of critical defects
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Modeling of uniform switching RRAM devices and impact of critical defects
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 178, 25 June 2017, Pages 93-97
نویسندگان
, , , , , , , ,