کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
4970839 1450303 2017 9 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Simulations of transient processes and characteristics of the nc-MOS structures
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Simulations of transient processes and characteristics of the nc-MOS structures
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 178, 25 June 2017, Pages 173-177
نویسندگان
, , ,