کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4970888 | 1450302 | 2017 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Impact of tungsten oxidation conditions on the performance of Al2O3/WOx-based CBRAM devices
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 179, 5 July 2017, Pages 56-59
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 179, 5 July 2017, Pages 56-59
نویسندگان
Z. Chen, A. Belmonte, C.Y. Chen, J. Radhakrishnan, A. Redolfi, J. Kang, L. Goux, G.S. Kar,