کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4970973 | 1450310 | 2017 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Spectroscopic ellipsometry study of spin coated P(VDF-TrFE-CTFE) thin films and P(VDF-TrFE-CTFE)/PMMA blends
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 171, 5 March 2017, Pages 37-43
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 171, 5 March 2017, Pages 37-43
نویسندگان
Moti Ben-David, Leeya Engel, Yosi Shacham-Diamand,