کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5005815 | 1461376 | 2017 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
GISAXS analysis of Ge nanoparticles embedded ZnO thin films: The effect of oxygen partial pressure and thermal process on the nanostructured aggregations
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science in Semiconductor Processing - Volume 71, 15 November 2017, Pages 145-150
Journal: Materials Science in Semiconductor Processing - Volume 71, 15 November 2017, Pages 145-150
نویسندگان
Begüm Ãınar Bam, Semra Ide, Andreas Keilbach, Abdullah Ceylan,