Single frequency correction based on three-element model for thin dielectric MOS capacitor

کد مقاله	کد نشریه	سال انتشار	مقاله انگلیسی	نسخه تمام متن
5010380	1462204	2017	16 صفحه PDF	دانلود رایگان

عنوان انگلیسی مقاله ISI

دانلود مقاله + سفارش ترجمه

دانلود مقاله ISI انگلیسی

رایگان برای ایرانیان

کلمات کلیدی

MOS capacitors - خازن های MOS Series resistance - مقاومت سری Parallel resistance - مقاومت موازی Dielectric loss tangent - ممانعت از دست دادن دی الکتریک Frequency dispersion - پراکندگی فرکانس

موضوعات مرتبط

مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک

پیش نمایش صفحه اول مقاله

Single frequency correction based on three-element model for thin dielectric MOS capacitor

ناشر

Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 129, March 2017, Pages 97-102

نویسندگان

Xizhen Zhang, Huichao Zhu, Chuanhui Cheng, Tao Yu, Daming Zhang, Hua Zhong, Xiangping Li, Yi Cheng, Xuesong Xu, Lihong Cheng, Jiashi Sun, Baojiu Chen,

علوم انسانی و هنر

فنی، مهندسی و علوم پایه

پزشکی و سلامت

بیو تکنولوژی

پذیرش سفارش ترجمه

Single frequency correction based on three-element model for thin dielectric MOS capacitor

دسترسی سریع

ارتباط

English Website