کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5395535 | 1505717 | 2017 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Comparison of L-curve and LOOCV depth profiles from TAARXPS data
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Time and angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy (TAARXPS) data, obtained from polystyrene samples exposed to an oxygen/helium plasma, have been interpreted using 1st order Tikhonov regularization to smooth the extracted depth profiles. Two methods for the choice of the regularization parameter, namely the L-curve method and leave-one-out cross-validation (LOOCV), are compared and contrasted.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 214, January 2017, Pages 1-7
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 214, January 2017, Pages 1-7
نویسندگان
R.W. Paynter,