کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5395535 1505717 2017 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Comparison of L-curve and LOOCV depth profiles from TAARXPS data
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Comparison of L-curve and LOOCV depth profiles from TAARXPS data
چکیده انگلیسی
Time and angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy (TAARXPS) data, obtained from polystyrene samples exposed to an oxygen/helium plasma, have been interpreted using 1st order Tikhonov regularization to smooth the extracted depth profiles. Two methods for the choice of the regularization parameter, namely the L-curve method and leave-one-out cross-validation (LOOCV), are compared and contrasted.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 214, January 2017, Pages 1-7
نویسندگان
,