کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5395635 | 1505723 | 2016 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Hard X-ray PhotoElectron Spectroscopy of transition metal oxides: Bulk compounds and device-ready metal-oxide interfaces
ترجمه فارسی عنوان
طیف سنج الکترونی پرتو الکترونی اکسید فلزات انتقالی: ترکیبات فله و اتصالات فلزی اکسید آماده به دستگاه
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
Photoelectron spectroscopy is one of the most powerful tool to unravel the electronic structure of strongly correlated materials also thanks to the extremely large dynamic range in energy, coupled to high energy resolution that this form of spectroscopy covers. The kinetic energy range typically used for photoelectron experiments corresponds often to a strong surface sensitivity, and this turns out to be a disadvantage for the study of transition metal oxides, systems where structural and electronic reconstruction, different oxidation state, and electronic correlation may significantly vary at the surface. We report here selected Hard X-ray PhotoElectron Spectroscopy (HAXPES) results from transition metal oxides, and from buried interfaces, where we highlight some of the important features that such bulk sensitive technique brings in the analysis of electronic properties of the solids.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 208, April 2016, Pages 95-99
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 208, April 2016, Pages 95-99
نویسندگان
F. Borgatti, P. Torelli, G. Panaccione,