کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5395782 | 1505730 | 2015 | 15 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Soft X-ray spectromicroscopy and ptychography
ترجمه فارسی عنوان
طیف سنجی اشعه ایکس نرم و پچکوگرافی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
Instrumentation and current capabilities of soft X-ray (50-2000Â eV) spectromicroscopy are outlined with examples from recently published and some new work. Four common techniques are treated-transmission X-ray microscopy (TXM), scanning transmission X-ray microscopy (STXM), X-ray photoemission electron microscopy (XPEEM) and scanning photoemission microscopy (SPEM). I also present a fifth, emerging technique, that of soft X-ray spectro-ptychography which has significantly improved spatial resolution and provides new contrast mechanisms. Perspectives for near future (5-10 years) evolution of soft X-ray spectromicroscopy are outlined based on current trends and instrumentation under development.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 200, April 2015, Pages 49-63
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 200, April 2015, Pages 49-63
نویسندگان
Adam P. Hitchcock,