کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5396149 1505742 2013 9 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Reflections on hard X-ray photon-in/photon-out spectroscopy for electronic structure studies
ترجمه فارسی عنوان
بازتاب های طیف سنجی فوتون-در / فوتون-خارج از اشعه ایکس سخت برای مطالعات ساختار الکترونیکی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
► Overview of some recent developments in hard X-ray RXES/RIXS. ► Evaluation of spectral line broadening in RXES/RIXS. ► Modelling of RXES/RIXS by ground state DFT calculations. ► Discussion on when HERFD provides a good approximation to XAS.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 188, June 2013, Pages 17-25
نویسندگان
, , , , , , , ,