کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5396149 | 1505742 | 2013 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Reflections on hard X-ray photon-in/photon-out spectroscopy for electronic structure studies
ترجمه فارسی عنوان
بازتاب های طیف سنجی فوتون-در / فوتون-خارج از اشعه ایکس سخت برای مطالعات ساختار الکترونیکی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
⺠Overview of some recent developments in hard X-ray RXES/RIXS. ⺠Evaluation of spectral line broadening in RXES/RIXS. ⺠Modelling of RXES/RIXS by ground state DFT calculations. ⺠Discussion on when HERFD provides a good approximation to XAS.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 188, June 2013, Pages 17-25
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 188, June 2013, Pages 17-25
نویسندگان
Pieter Glatzel, Tsu-Chien Weng, Kristina Kvashnina, Janine Swarbrick, Marcin Sikora, Erik Gallo, Nikolay Smolentsev, Roberto Alonso Mori,