کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5396244 | 1505750 | 2011 | 14 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Instrument-related geometrical factors affecting the intensity in XPS and ARXPS experiments
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Instrument geometrical-factors affecting the XPS angular dependence are described. ⺠The geometrical factors in XPS instruments are transferable to other systems. ⺠Practical protocols are presented for assessing the size of analysis area and volume. ⺠Practical protocols are presented for assessing the size of the X-ray beam spot. ⺠Practical protocols are described for assessing the manipulator's axis of rotation.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 184, Issues 8â10, November 2011, Pages 487-500
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 184, Issues 8â10, November 2011, Pages 487-500
نویسندگان
A. Herrera-Gomez, F.S. Aguirre-Tostado, P.G. Mani-Gonzalez, M. Vazquez-Lepe, A. Sanchez-Martinez, O. Ceballos-Sanchez, R.M. Wallace, G. Conti, Y. Uritsky,