کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5396347 | 1392284 | 2012 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characteristic and non-characteristic X-ray yields produced from thick Ti element by sub-relativistic electrons
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠The X-ray spectra of a thick Ti element by 10-25 keV electron impact are obtained. ⺠Measured Ti Kα yields are found to be in good agreement with PWBA theory. ⺠Doubly differential bremsstrahlung yields agree reasonably with MC simulation. ⺠Average value of the ratio Kα/(Kα + Kβ) of Ti is found to be 0.881 ± 0.003.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issue 11, November 2012, Pages 448-452
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issue 11, November 2012, Pages 448-452
نویسندگان
Namita Yadav, Sunil Kumar, Pragya Bhatt, Raj Singh, B.K. Singh, R. Shanker,