کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5396390 1392286 2012 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Angle-resolved X-ray photoemission electron microscopy
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Angle-resolved X-ray photoemission electron microscopy
چکیده انگلیسی
► Microprobe ARPES is successfully applied to studies on graphene. ► We propose a novel approach by applying dark field methods to XPEEM. ► The lateral resolution in dark field XPEEM is better than 40 nm. ► Dark field XPEEM is applied to O/W(1 1 0) to determine adsorption site symmetry.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issue 10, October 2012, Pages 323-329
نویسندگان
, ,