کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5396390 | 1392286 | 2012 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Angle-resolved X-ray photoemission electron microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Microprobe ARPES is successfully applied to studies on graphene. ⺠We propose a novel approach by applying dark field methods to XPEEM. ⺠The lateral resolution in dark field XPEEM is better than 40 nm. ⺠Dark field XPEEM is applied to O/W(1 1 0) to determine adsorption site symmetry.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issue 10, October 2012, Pages 323-329
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issue 10, October 2012, Pages 323-329
نویسندگان
Tevfik Onur MenteÅ, Andrea Locatelli,