کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5396649 | 1505757 | 2010 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Total reflection X-ray photoelectron spectroscopy: A review
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Total reflection X-ray photoelectron spectroscopy (TRXPS) is reviewed and all the published papers on TRXPS until the end of 2009 are included. Special emphasis is on the historical development. Applications are also described for each report. The background reduction is the most important effect of total reflection, but interference effect, relation to inelastic mean free path, change of probing depth are also discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volumes 178â179, May 2010, Pages 268-272
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volumes 178â179, May 2010, Pages 268-272
نویسندگان
Jun Kawai,