کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5398836 | 1505897 | 2015 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
InAs quantum dot emission and annealing impact in quantum wells with strain reduced InAlGaAs layers
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: InAs quantum dot emission and annealing impact in quantum wells with strain reduced InAlGaAs layers InAs quantum dot emission and annealing impact in quantum wells with strain reduced InAlGaAs layers](/preview/png/5398836.png)
چکیده انگلیسی
Thermal decay of the integrated PL intensities has been investigated in studied structures as well. The PL thermal decay 10-fold is revealed for the range of 10-300Â K in #1 with the In0.15Ga0.85As capping layer compared with the 5-fold thermal decay in #2 for the In0.15Al0.4Ga0.45As capping layer. Finally the reasons for PL spectrum transformation at annealing, the mechanism of PL thermal decay, and the advantages of QD structures with the In0.15Al0.4Ga0.45As capping layer have been analyzed and discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Luminescence - Volume 163, July 2015, Pages 40-46
Journal: Journal of Luminescence - Volume 163, July 2015, Pages 40-46
نویسندگان
T.V. Torchynska, R. Cisneros Tamayo, G. Polupan, A. Stints, L. Shcherbyna,