کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
540075 | 1450398 | 2007 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Coarse-grain method for modeling of stamp and substrate deformation in nanoimprint
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
A coarse-grain method for simultaneous calculation of the resist viscous flow in nanoimprint lithography and the stamp and substrate deformation is presented. Agreement between experimental and simulated results is observed. The analysis of these results led to the conclusion that good quantitative correspondence may be only achieved by the simultaneous coarse-grain modeling performed for all structures placed on the stamp.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 84, Issues 5–8, May–August 2007, Pages 868–871
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 84, Issues 5–8, May–August 2007, Pages 868–871
نویسندگان
Vadim Sirotkin, Alexander Svintsov, Helmut Schift, Sergey Zaitsev,