کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5403818 | 1392768 | 2008 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Trapping mechanism in the afterglow process of the rare-earth activated Y2O2S phosphors
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
It is concluded that the excited electron and the hole in the conduction and valence bands are trapped separately in the states (impurity levels) located in the vicinity of the Ln3+ ion. The trapping depths of the level range from 0.3 to 1.1Â eV and are dependent on the electron affinity of the Ln3+ ion estimated from the energy difference between the 4fn+1 and the 4fn configurations in the 4f shell of the ion.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Luminescence - Volume 128, Issue 3, March 2008, Pages 494-498
Journal: Journal of Luminescence - Volume 128, Issue 3, March 2008, Pages 494-498
نویسندگان
Eiichiro Nakazawa, Hajime Yamamoto,