| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن | 
|---|---|---|---|---|
| 5468796 | 1519054 | 2016 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان | 
عنوان انگلیسی مقاله ISI
												Muscovite single layer resolution: Secondary ion mass spectrometry depth profile
												
											دانلود مقاله + سفارش ترجمه
													دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
																																												کلمات کلیدی
												
											موضوعات مرتبط
												
													مهندسی و علوم پایه
													علوم زمین و سیارات
													ژئوشیمی و پترولوژی
												
											پیش نمایش صفحه اول مقاله
												 
												ناشر
												Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Clay Science - Volumes 132â133, November 2016, Pages 621-625
											Journal: Applied Clay Science - Volumes 132â133, November 2016, Pages 621-625
نویسندگان
												Monika Jerigova, Vojtech Szöcs, Marian Janek, Dusan Lorenc, Dusan Velic,