Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Battery; Thin film; Secondary ion mass spectrometry; Nuclear reaction analysis; Raman microscopy;
مقالات ISI طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; TOF-SIMS; Secondary ion mass spectrometry; Surface analysis; Chitosan; Nanoparticles; Cellulose;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Matrix effects; Compositional analysis; Depth profiling; Ion beam sputtering;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 3D; three-dimensional; AFM; atomic force microscopy; AAO; anodic aluminum oxide; ALP; alkaline phosphatase; ANSC; adult neural stem cell; AR; aspect ratio; BCP; block copolymers; BSA; bovine serum albumin; CEC; corneal epithelial cells; CHO; Chinese hamst
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Mass spectrometry; Metallodrugs; Metallomics; Mode of action; Molecular target identification; CZE; capillary zone electrophoresis; ESI; electrospray ionization; FITExP; functional identification of target by expression proteomics; HPLC; high performance
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; AAS; atomic absorption spectrometry; AuNPs; gold nanoparticles; Az; azotobactin; BSA; bovine serum albumin; CMCP; critical metal concentrations for pyoverdine; CV; cyclic voltammetry; CPG; controlled pore glass; DFB; desferrioxamine B; FI; flow injection;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Characterization; Nanomedicine; Regulatory; Biological systems; Quality control; AFM; Atomic force microscopy; API; Active pharmaceutical ingredient; BSAI; Biological Surface Adsorption Index; CARPA; Complement activation related pseudo allergy; CRO; Cont
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Sandstone; Diagenesis; Quartz cement; Effective stress; Secondary ion mass spectrometry; Oxygen isotopes;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Silicon oxynitride; Neutral beam; Plasma-enhanced chemical vapor deposition; Room temperature deposition; Plasma damage; Electrical properties; Secondary ion mass spectrometry;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Helium implantation; Depth profiling; bcc metals; Thermal annealing; Transmission electron microscopy;
An overview on forensic analysis devoted to analytical chemists
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; CBD; Cannabidiol; CKe; Creatine Kinas; DAPCI; Desorption Atmospheric Pressure Chemical Ionization; DART; Direct Analysis in Real Time; DESI-MS; Desorption Electrospray Ionization Mass Spectrometry; EESI; Extractive Electrospray Surface Ionization; EtG; Et
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Modifier and analyte spatial distribution; Depth profiles; Hydride generation and trapping of Sb, As and Se; Graphite platform; Secondary ion mass spectrometry
Secondary ion mass spectrometry: The application in the analysis of atmospheric particulate matter
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Particulate matter; Aerosol; Surface analysis; Chemical heterogeneity;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Early Solar System chronology; 53Mn; Cr isotopes; Secondary ion mass spectrometry; Relative sensitivity factor; Matrix effect;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Graphene; Composite; Secondary ion mass spectrometry; Characterisation; Standardisation; Printable inks;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Helium ion microscope; Time of flight; Elemental analysis; Backscattering spectrometry; Neutral impact-collision ion scattering spectrometry; Secondary ion mass spectrometry;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; C60 depth profiling; Particle-based solid phase peptide synthesis; Functionalized PEGMA coated surfaces; High-density peptide arrays; Combinatorial laser fusing;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; DESI, mass spectrometric imaging; MALDI; Margin assessment; Mass spectrometry; REIMS; Metabolic fingerprint; Surgery; Intraoperative; Cancer; 2-HG; 2-hydroxyglutarate; CBS-MS; coated blade spray mass spectrometry; CT; computed tomography; CUSA; Cavitron u
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Chol; cholesterol; BODIPY; boron dipyrromethene difluoride; CDC; cholesterol-dependent cytolysins; CHO; Chinese hamster ovary; CTL; cholestatrienol; DHE; dehydroergosterol; DOPC; 1,2-dioleoyl-sn-glycero-3-phosphocholine; DPPC; 1,2-dipalmitoyl-sn-glycero-3
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Serripes groenlandicus; Ciliatocardium ciliatum; Secondary ion mass spectrometry; Dynamic time warping; Sclerochronology;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Signatures; Isotope ratios; Uranium enrichment; Nuclear archeology;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary Ion Mass Spectrometry; SIMS; Quantification; Cs complex; Mass spectrometry;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Temperature programmed desorption; Amorphous solid water; Crystallization;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Polypropylene; Surface treatment by excited gases (e.g. flame, corona, plasma); Secondary ion mass spectrometry; X-ray photoelectron spectroscopy
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Uranium oxides; Thin films; Electrodeposition; X-ray diffraction; Scanning electron microscopy; Focused ion beam; Secondary ion mass spectrometry; High-speed atomic force microscopy
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Instrumental mass fractionation; Hydrogen isotopic measurements; D/H ratio; Secondary ion mass spectrometry; Polyatomic ions; Solid samples;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Matrix effects; Quantitation; Composition; Depth profile;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; ECCS; emergency core cooling system; ICET; integrated chemical effects tests; ICP-AES; inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy; LOCA; loss of coolant accident; NaTB; sodium tetraborate; NMR; nuclear magnetic resonance; PHWR; pressurized he
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; DFO; 1,8-diazafluoren-9-one; GC-MS; gas chromatography-mass spectrometry; LC-MS; liquid chromatography-mass spectrometry; MALDI-MSI; matrix-assisted laser desorption/ionisation mass spectrometry imaging; SIMS; secondary ion mass spectrometry; UV;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Nuclear Reaction Analysis; Secondary Ion Mass Spectrometry; Graphite; Carbon 14; Implantation; Raman micro-spectroscopy;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Protons; Atomic layer deposition; Yttria-stabilized zirconia; Secondary ion mass spectrometry;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Hydrogen; Secondary ion mass spectrometry; Time variation; Austenitic stainless steel; Hydrogen embrittlement
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Sputtering; Molecular dynamics; Steady-state statistical sputtering model; Depth profiling; Secondary ion mass spectrometry;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Gas cluster ion beam; Soft-sputtering; Matrix-free ionization;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Kelvin probe force microscopy; Secondary ion mass spectrometry; Buried interface; Self-assembled monolayers; Thin polymer film;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 2-AEP; 2-aminophosphonolipid; 9-AA; 9-aminoacridine; APCI; atmospheric pressure chemical ionization; AP-MALDI; atmospheric pressure matrix-assisted laser desorption ionization; ASAP; atmospheric pressure solids analysis probe; Cer; ceramide; Cer1P; cerami
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Surface oxygen exchange kinetics; Isotope exchange; Secondary ion mass spectrometry
Mg thermal diffusion behavior on the band modulation of MgxZn1-xO/ZnO metal-semiconductor-metal photodetectors
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Metal-semiconductor-metal; Photodetectors; MgxZn1-xO/ZnO; Secondary ion mass spectrometry; Photoluminescence;
Low temperature incorporation of selenium in Cu2ZnSnS4: Diffusion and nucleation
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Cu2ZnSnS4; Selenium diffusion; Band gap grading; Nucleation; Recrystallization; Grain boundary diffusion; Diffusion; Secondary ion mass spectrometry;
Heavy doping of CdTe single crystals by Cr ion implantation
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; CdTe; Ion implantation; Doping; Irradiation-induced damage; Rutherford backscattering spectrometry; Secondary ion mass spectrometry;
Characteristic STATE of substrate and coatings interface formed by Impulse Plasma Deposition method
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Impulse Plasma Deposition; Impulse plasma; Titanium nitride; Interface; Secondary ion mass spectrometry;
44Ca doped remineralization study on dentin by isotope microscopy
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Isotope microscope; Calcium; Secondary ion mass spectrometry; Remineralization; Fluoride; Dentin;
Mass spectrometric study of the negative and positive secondary ions emitted from ethanol microdroplets by MeV-energy heavy ion impact
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Fast heavy ion; Microdroplet; Sputtering; Secondary ion; Secondary ion mass spectrometry; Ethanol cluster;
Time of flight-secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) study of diverse asphaltenes
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Asphaltenes; Bitumens; Secondary ion mass spectrometry; Cation fragments; Aromatic fragments; Free radicals;
Probing the solid-liquid transition of thin propanol and butanol films through interactions with LiI
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Glass-liquid transition; Premelting; Alcohol; Secondary ion mass spectrometry; Reflection absorption infrared spectroscopy;
Mass spectrometry in freeze-drying: Motivations for using a bespoke PAT for laboratory and production environment
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; CM; capacitance manometer; FBRM; focused beam reflectance measurement; Fluorescence; fluorescence spectroscopy; GC-MS; gas chromatography-mass spectrometry; ICP-MS; inductively coupled plasma-mass spectrometry; Laser Headspace; NIR laser measurements tu
NanoSIMS isotope studies of rare types of presolar silicon carbide grains from the Murchison meteorite: Implications for supernova models and the role of 14C
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Meteorites; Presolar grains; Silicon carbide; Supernovae; Secondary ion mass spectrometry;
Physico-chemical properties of manufactured nanomaterials - Characterisation and relevant methods. An outlook based on the OECD Testing Programme
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Manufactured nanomaterials; Physico-chemical properties; Characterisation; OECD test guidelines; Working party on manufactured nanomaterials; 2D; two dimensional; 3D; three dimensional; AES; Auger electron spectroscopy; AFM; Atomic force microscopy; ATOF-
Subsurface damage in polishing-annealing processed ZnO substrates
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; ZnO; Positron annihilation spectroscopy; Secondary ion mass spectrometry; Vacancies;
Formation of Zn- and O- vacancy clusters in ZnO through deuterium annealing
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; ZnO; Defects; Vacancy clusters; Secondary ion mass spectrometry; Positron annihilation spectroscopy;