دانلود مقالات ISI درباره طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه + ترجمه فارسی
Secondary Ion Mass Spectrometry
آشنایی با موضوع
طیف سنجی جرم یون ثانویه (به انگلیسی: Secondary ion mass spectrometry) یا سیمس (به انگلیسی: SIMS) یک تکنیک مورد استفاده در علم مواد و علم بررسی مواد حالت جامد میباشد. سیمس، تکنیک تجزیه و تحلیل ترکیب سطوح جامد و لایههای نازک، توسط کندوپاش سطح نمونه با پرتو یون متمرکز اولیه و جمعآوری و تجزیه و تحلیل یونهای خارج ثانویهاست. این یون ثانویه همراه با طیفسنج جرمی اندازهگیری میشود و برای تعیین ترکیب عنصری، ایزوتوپی یا مولکولی سطح کاربرد دارد. سیمس حساسترین تکنیک تجزیه و تحلیل سطح است که قادر به تشخیص عناصر موجود در محدوده یک در میلیارد میباشد.
در این صفحه تعداد 345 مقاله تخصصی درباره طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید. در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند. در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Modifier and analyte spatial distribution; Depth profiles; Hydride generation and trapping of Sb, As and Se; Graphite platform; Secondary ion mass spectrometry
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Early Solar System chronology; 53Mn; Cr isotopes; Secondary ion mass spectrometry; Relative sensitivity factor; Matrix effect;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Helium ion microscope; Time of flight; Elemental analysis; Backscattering spectrometry; Neutral impact-collision ion scattering spectrometry; Secondary ion mass spectrometry;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Gas cluster ion beam; Soft-sputtering; Matrix-free ionization;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Fast heavy ion; Microdroplet; Sputtering; Secondary ion; Secondary ion mass spectrometry; Ethanol cluster;
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Manufactured nanomaterials; Physico-chemical properties; Characterisation; OECD test guidelines; Working party on manufactured nanomaterials; 2D; two dimensional; 3D; three dimensional; AES; Auger electron spectroscopy; AFM; Atomic force microscopy; ATOF-