آشنایی با موضوع

طیف سنجی جرم یون ثانویه (به انگلیسی: Secondary ion mass spectrometry) یا سیمس (به انگلیسی: SIMS) یک تکنیک مورد استفاده در علم مواد و علم بررسی مواد حالت جامد می‌باشد. سیمس، تکنیک تجزیه و تحلیل ترکیب سطوح جامد و لایه‌های نازک، توسط کندوپاش سطح نمونه با پرتو یون متمرکز اولیه و جمع‌آوری و تجزیه و تحلیل یونهای خارج ثانویه‌است. این یون ثانویه همراه با طیف‌سنج جرمی اندازه‌گیری می‌شود و برای تعیین ترکیب عنصری، ایزوتوپی یا مولکولی سطح کاربرد دارد. سیمس حساس‌ترین تکنیک تجزیه و تحلیل سطح است که قادر به تشخیص عناصر موجود در محدوده یک در میلیارد می‌باشد.

در این صفحه تعداد 177 مقاله تخصصی درباره طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Battery; Thin film; Secondary ion mass spectrometry; Nuclear reaction analysis; Raman microscopy;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; TOF-SIMS; Secondary ion mass spectrometry; Surface analysis; Chitosan; Nanoparticles; Cellulose;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 3D; three-dimensional; AFM; atomic force microscopy; AAO; anodic aluminum oxide; ALP; alkaline phosphatase; ANSC; adult neural stem cell; AR; aspect ratio; BCP; block copolymers; BSA; bovine serum albumin; CEC; corneal epithelial cells; CHO; Chinese hamst
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Mass spectrometry; Metallodrugs; Metallomics; Mode of action; Molecular target identification; CZE; capillary zone electrophoresis; ESI; electrospray ionization; FITExP; functional identification of target by expression proteomics; HPLC; high performance
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; AAS; atomic absorption spectrometry; AuNPs; gold nanoparticles; Az; azotobactin; BSA; bovine serum albumin; CMCP; critical metal concentrations for pyoverdine; CV; cyclic voltammetry; CPG; controlled pore glass; DFB; desferrioxamine B; FI; flow injection;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Characterization; Nanomedicine; Regulatory; Biological systems; Quality control; AFM; Atomic force microscopy; API; Active pharmaceutical ingredient; BSAI; Biological Surface Adsorption Index; CARPA; Complement activation related pseudo allergy; CRO; Cont
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Sandstone; Diagenesis; Quartz cement; Effective stress; Secondary ion mass spectrometry; Oxygen isotopes;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Silicon oxynitride; Neutral beam; Plasma-enhanced chemical vapor deposition; Room temperature deposition; Plasma damage; Electrical properties; Secondary ion mass spectrometry;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Helium implantation; Depth profiling; bcc metals; Thermal annealing; Transmission electron microscopy;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; CBD; Cannabidiol; CKe; Creatine Kinas; DAPCI; Desorption Atmospheric Pressure Chemical Ionization; DART; Direct Analysis in Real Time; DESI-MS; Desorption Electrospray Ionization Mass Spectrometry; EESI; Extractive Electrospray Surface Ionization; EtG; Et
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Graphene; Composite; Secondary ion mass spectrometry; Characterisation; Standardisation; Printable inks;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Helium ion microscope; Time of flight; Elemental analysis; Backscattering spectrometry; Neutral impact-collision ion scattering spectrometry; Secondary ion mass spectrometry;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; C60 depth profiling; Particle-based solid phase peptide synthesis; Functionalized PEGMA coated surfaces; High-density peptide arrays; Combinatorial laser fusing;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; DESI, mass spectrometric imaging; MALDI; Margin assessment; Mass spectrometry; REIMS; Metabolic fingerprint; Surgery; Intraoperative; Cancer; 2-HG; 2-hydroxyglutarate; CBS-MS; coated blade spray mass spectrometry; CT; computed tomography; CUSA; Cavitron u
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Chol; cholesterol; BODIPY; boron dipyrromethene difluoride; CDC; cholesterol-dependent cytolysins; CHO; Chinese hamster ovary; CTL; cholestatrienol; DHE; dehydroergosterol; DOPC; 1,2-dioleoyl-sn-glycero-3-phosphocholine; DPPC; 1,2-dipalmitoyl-sn-glycero-3
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Serripes groenlandicus; Ciliatocardium ciliatum; Secondary ion mass spectrometry; Dynamic time warping; Sclerochronology;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Signatures; Isotope ratios; Uranium enrichment; Nuclear archeology;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary Ion Mass Spectrometry; SIMS; Quantification; Cs complex; Mass spectrometry;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Temperature programmed desorption; Amorphous solid water; Crystallization;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Uranium oxides; Thin films; Electrodeposition; X-ray diffraction; Scanning electron microscopy; Focused ion beam; Secondary ion mass spectrometry; High-speed atomic force microscopy
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Polypropylene; Surface treatment by excited gases (e.g. flame, corona, plasma); Secondary ion mass spectrometry; X-ray photoelectron spectroscopy
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Instrumental mass fractionation; Hydrogen isotopic measurements; D/H ratio; Secondary ion mass spectrometry; Polyatomic ions; Solid samples;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; ECCS; emergency core cooling system; ICET; integrated chemical effects tests; ICP-AES; inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy; LOCA; loss of coolant accident; NaTB; sodium tetraborate; NMR; nuclear magnetic resonance; PHWR; pressurized he
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; DFO; 1,8-diazafluoren-9-one; GC-MS; gas chromatography-mass spectrometry; LC-MS; liquid chromatography-mass spectrometry; MALDI-MSI; matrix-assisted laser desorption/ionisation mass spectrometry imaging; SIMS; secondary ion mass spectrometry; UV;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Protons; Atomic layer deposition; Yttria-stabilized zirconia; Secondary ion mass spectrometry;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Sputtering; Molecular dynamics; Steady-state statistical sputtering model; Depth profiling; Secondary ion mass spectrometry;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Gas cluster ion beam; Soft-sputtering; Matrix-free ionization;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 2-AEP; 2-aminophosphonolipid; 9-AA; 9-aminoacridine; APCI; atmospheric pressure chemical ionization; AP-MALDI; atmospheric pressure matrix-assisted laser desorption ionization; ASAP; atmospheric pressure solids analysis probe; Cer; ceramide; Cer1P; cerami
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Surface oxygen exchange kinetics; Isotope exchange; Secondary ion mass spectrometry
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; CM; capacitance manometer; FBRM; focused beam reflectance measurement; Fluorescence; fluorescence spectroscopy; GC-MS; gas chromatography-mass spectrometry; ICP-MS; inductively coupled plasma-mass spectrometry; Laser Headspace; NIR laser measurements tu
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Manufactured nanomaterials; Physico-chemical properties; Characterisation; OECD test guidelines; Working party on manufactured nanomaterials; 2D; two dimensional; 3D; three dimensional; AES; Auger electron spectroscopy; AFM; Atomic force microscopy; ATOF-