دانلود مقالات ISI درباره طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه + ترجمه فارسی

Solid state field-assisted diffusion of silver in multi-component tellurite glasses

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Tellurite glass; Solid state diffusion; Secondary ion mass spectrometry; Ellipsometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Magnetism in GaN layers implanted by La, Gd, Dy and Lu

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Magnetic semiconductors; III–V semiconductors; Ion implantation; Rare earth; X-ray diffraction; Rutherford backscattering spectroscopy; Secondary ion mass spectrometry; Magnetic properties of thin films

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

SIMS study on the surface chemistry of stainless steel AISI 304 cylindrical tensile test samples showing hydrogen embrittlement

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Hydrogen embrittlement; Secondary ion mass spectrometry; Contamination; Oxide layer

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Three dimensional imaging using secondary ion mass spectrometry and atomic force microscopy

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 3D imaging; Atomic force microscopy; Secondary ion mass spectrometry; AFM corrected SIMS imaging; Sputter rate; Ion fluence;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Characterization of Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition–Physical Vapor Deposition transparent deposits on textiles to trigger various antimicrobial properties to food industry textiles

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition; Physical Vapor Deposition; Silver; Hydrogenated silicon oxycarbide; X-ray Photoelectron Spectroscopy; Secondary Ion Mass Spectrometry; Transmission Electron Microscopy; Antibacterial activity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Spatially resolved mass spectrometry in the study of art and archaeological objects

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Archaeometry; Atmospheric pressure MALDI; Bronze; Conservation science; Glass; Laser desorption/ionization; MALDI; Mass spectrometry; Pigment; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Correlated AFM and NanoSIMS imaging to probe cholesterol-induced changes in phase behavior and non-ideal mixing in ternary lipid membranes

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; FRET; fluorescence resonance energy transfer; AFM; atomic force microscopy; SIMS; secondary ion mass spectrometry; 15N-DLPC; 15N-1,2-dilauryl-sn-glycero-3-phosphocholine; D70-DSPC; 1,2-distearoyl-D70-sn-glycero-3-phosphocholine; NBD-PC; 1-palmitoyl-2-{12-

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Ratio estimation in SIMS analysis

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Ratio; Isotope measurement; Statistics; Bias;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Lipid imaging with time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS)

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; SIMS; secondary ion mass spectrometry; ToF-SIMS; time-of-flight secondary ion mass spectrometry; MALDI; imaging mass spectrometry; IMS; matrix-assisted laser desorption ionization; DESI; desorption electrospray ionization; FAB; fast atom bombardment; Ga;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 15 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Desorption electrospray ionization mass spectrometry for lipid characterization and biological tissue imaging

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; DESI-MS; desorption electrospray ionization mass spectrometry; HPLC; high performance liquid chromatography; GC; gas chromatography; TLC; thin-layer chromatography; SIMS; secondary ion mass spectrometry; MALDI; matrix assisted laser desorption ionization;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 15 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Depth profiling of fingerprint and ink signals by SIMS and MeV SIMS

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Fingerprints; Forensic Science; Ion Beam Analysis

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Effect of the substrate temperature on zirconium oxynitride thin films deposited by water vapour–nitrogen radiofrequency magnetron sputtering

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Zirconium oxynitride; Atomic Force Microscopy; X-ray diffraction; Secondary Ion Mass Spectrometry; Transmission Electron Microscopy; Magnetron sputtering

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Application of ToF-SIMS to the study of surfactant removal from AuNbMCM-41 and AuMCM-41 materials

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; ToF-SIMS; Secondary ion mass spectrometry; MCM-41; Gold; Catalyst

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Arsenic and phosphorus codiffusion during silicon microelectronic processes

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Si doping; Diffusion; Arsenic; Phosphorus; Secondary ion mass spectrometry; Annealing

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Hydrogenation of sp2-bonded carbon surfaces using methane plasma

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Graphite; Methane plasma; Principle component analysis; Secondary ion mass spectrometry; Elastic recoil detection analysis;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

An image formation model for Secondary Ion Mass Spectrometry imaging of biological tissue samples

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Point pattern distribution analysis; Nearest neighbor index;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Effect of addition of N on L10 transformation and atomic diffusion in FePt films

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; L10 transformation; Self-diffusion; Nuclear resonance reflectivity; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Limited hydrologic response to Pleistocene climate change in deep vadose zones — Yucca Mountain, Nevada

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; vadose zone; paleohydrogeology; paleoclimate; U-series dating; secondary ion mass spectrometry; Yucca Mountain

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Polymer/layered silicate (clay) nanocomposites: An overview of flame retardancy

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; ABS; acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer; ABS-g-MA; acrylonitrile-butadiene-styrene-graft-maleic anhydride; ACPB; acrylic acid pentabromobenzyl ester; AO; antimony trioxide; APP; ammonium polyphosphate; AS; ammonium sulfamate; ATH; aluminum trihydra

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 57 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Mass spectrometric study of collision interactions of fast charged particles with water and NaCl solutions

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 82.80.RtSputtering; Liquid water; Clusters; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

On the origin of aluminum-related cathodoluminescence emissions from sublimation grown 4H-SiC(112¯0)

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 61.72.Ss; 68.49.Sf; 71.55.−i; 78.60.Hk; 81.05.Hd; 81.70.Jb; 4H-SiC; Chemical vapor deposition processes-hot wall epitaxy and sublimation epitaxy; Interfacial impurities; Cathodoluminescence; Secondary ion mass spectrometry; Impurity luminescence;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Penning ionization in the electron beam assisted secondary ion mass spectrometry-dependence of ionization potential

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Ion-solid interactions; Penning ionization; Ionization potential

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Surface characteristics of glass fibres covered with an aluminum layer after a chemical modification process using secondary ion mass spectrometry (SIMS) and atomic force microscopy (AFM)

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Matrix-less reference material; Certified reference material; Pyrolysis; Atomic force microscope; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Effect of hydrogen sulfide on the direct internal reforming of methane in solid oxide fuel cells

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Solid oxide fuel cells; Sulfur poisoning; Direct internal reforming; Methane; Hydrogen sulfide; Performance degradation; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Analytical procedure for mapping the distribution of 10B and 99Tc markers in cryo-sections of animal tissue samples by secondary ion mass spectrometry

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Tissue cryo-section; Boron neutron capture therapy; Technetium-99; Heart perfusion

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Lithium isotope analysis of olivine by SIMS: Calibration of a matrix effect and application to magmatic phenocrysts

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Mantle; Xenolith; Peridotite; Hawai'i; Ko'olau; Tanzania; South Africa; San Carlos; Kilbourne Hole; Geochemistry; Ion microprobe; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Nephrogenic Systemic Fibrosis: Histology and Gadolinium Detection

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Nephrogenic systemic fibrosis; Histopathology; Gadolinium; Scanning electron microscopy; Energy dispersive x-ray spectroscopy; Mass spectrometry; Tissue analysis; Secondary ion mass spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 13 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Secondary ion emission enhancement assisted by electron beam in secondary ion mass spectrometry

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Ion-solid interaction; Electron stimulated desorption; Penning ionization; Energy spectrum;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Secondary emission of MCsn+ molecular ions under the joint influence of electropositive and electronegative elements

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Cesium; Sputtering; Secondary ion mass spectrometry; Work function measurement; Silver; MCsn+ molecular ion emission;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Secondary ion mass spectrometry with C60+ and Au4004+ projectiles: Depth and nature of secondary ion emission from multilayer assemblies

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Cluster projectile; Emission depth; Layer-by-layer film; Recoil

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

On the emission of MoCs+ molecular ions from Cs+ irradiated molybdenum surface

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 79.20.Rf; 68.49.Sf; 73.30.+yCesium; Sputtering; Secondary ion mass spectrometry; Work function measurement; Molybdenum; MCs+ molecular ion emission

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Microscopic studies of spherical particles for nuclear safeguards

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 68.37.Hk; 82.80.Ej; 68.49.Sf; 82.80.Ms; Particle analysis; Uranium; Scanning electron microscopy; X-ray spectrometry; Secondary ion mass spectrometry; Nuclear safeguards;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Oxygen-18 surface exchange and diffusion in Li2O-deficient single crystalline lithium niobate

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Oxygen diffusion; Oxygen surface exchange; Lithium niobate; Secondary ion mass spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Analysis of metastable ions in the ToF-SIMS spectra of polymers

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Surface analysis; Secondary ion mass spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Enhancement of 1.5 μm emission in erbium-doped spin-on glass by furnace annealing

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Annealing; Erbium; Photoluminescence; Secondary Ion Mass Spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Effect of heating on the behaviors of hydrogen in C-TiC films with auger electron spectroscopy and secondary ion mass spectroscopy analyses

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Auger electron spectroscopy; Secondary ion mass spectrometry; Titanium carbide; Hydrogen retention; Heat treatment

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Trace element AMS at NRL: Initial use of a modified SIMS ion source

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 07.77.+h; 41.75.Ak; 41.85.−p; 41.85.Ar; 41.85.Ja; Accelerator mass spectrometry; Secondary ion mass spectrometry; Trace element; Molecular interference;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Ion optic calculations and installation of a modified SIMS ion source

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 07.77.+h; 41.75.Ak; 41.85.−p; 41.85.Ar; 41.85.JaAccelerator mass spectrometry; Secondary ion mass spectrometry; Trace element; Molecular interference

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Attempts for molecular depth profiling directly on a rat brain tissue section using fullerene and bismuth cluster ion beams

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Imaging mass spectrometry; Depth profiling; Fullerene; Biological tissue; Time-of-flight; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Measuring salty samples without adducts with MALDI MS

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; MALDI; Salt; Tissue; Mass spectrometric imaging; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Secondary ion mass spectrometry of MCsn+ molecular ion complexes

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 79.20.Rf; 68.49.Sf; Cs+ primary ions; Electronegative elements; Secondary ion mass spectrometry; MCsn+ molecular ions; Formation mechanisms;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

A TRIDYN study: Comparison of experimental SIMS useful yields with simulated Cs concentration evolution

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; TRIDYN; Neutral cesium deposition; Cesium surface concentration; Useful yield; Secondary Ion Mass Spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

The oxidation of calcium implanted titanium in water: A depth profiling study

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Ion implantation; Titanium; Calcium; Biomaterials; X-ray photoelectron spectroscopy; Secondary ion mass spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Characterization of TiO2 coatings prepared by a modified electric arc-physical vapour deposition system

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; TiO2; Physical vapor deposition; X-ray photoelectron spectroscopy; Secondary ion mass spectrometry; X-ray diffraction; Raman spectroscopy; Photocatalytic activity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Enhanced secondary ion emission with a bismuth cluster ion source

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Nonlinear yield enhancement; Sputtering; Polyatomic ions

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Secondary ion mass spectrometry of irradiated nuclear fuel and cladding: An overview

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Shielded SIMS; Isobaric interference; Irradiated nuclear fuel; Zircaloy cladding

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 14 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Electron work function decrease in SIMS analysis induced by neutral cesium deposition

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Neutral Cs deposition; Electron work function variation; Useful yield; Secondary ion mass spectrometry; CMS

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 14 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Tracking meteoric infiltration into a magmatic-hydrothermal system: A cathodoluminescence, oxygen isotope and trace element study of quartz from Mt. Leyshon, Australia

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Quartz; Cathodoluminescence; Trace elements; Oxygen isotopes; Laser ablation; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 18 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Micrometer scale carbon isotopic study of bitumen associated with Athabasca uranium deposits: Constraints on the genetic relationship with petroleum source-rocks and the abiogenic origin hypothesis

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; organic carbon isotopes; secondary ion mass spectrometry; bitumen; uranium deposits; Athabasca; abiogenic synthesis

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 19 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Diffusion of Mn in gallium arsenide

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Semiconductors; Diffusion; Secondary ion mass spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه