دانلود مقالات ISI درباره طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه + ترجمه فارسی

Characterization of ZnO thin film deposited by electron cyclotron resonance plasma-assisted chemical vapor deposition

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Chemical vapor deposition; Electron cyclotron resonance plasma; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Modeling the dissociation and ionization of a sputtered organic molecule

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Sputtering; Energy dissipation; Ionization; Fragmentation; Secondary ion mass spectrometry; Molecular dynamics simulations; First principles; Ion emission;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Molecular ion emission from single large cluster impacts

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Gold clusters; Secondary ion mass spectrometry; Intact molecules; Multi-ion emission; C60;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Sputtering yields of PMMA films bombarded by keV C60+ ions

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Sputtering yield; Polymers; PMMA; Cluster; C60; Secondary ion mass spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Surface analytical chemical imaging and morphology of Cu–Cr alloy

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Copper; Chromium; Secondary ion mass spectrometry; Atomic force microscopy; Compound formation; Morphology

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

3D molecular imaging SIMS

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Beam-induced damage; Cluster bombardment; Depth profile; Secondary ion mass spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Structural relaxation of formic acid and its interaction with water and Xe at cryogenic temperatures

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Formic acid; Water; Xenon; Solvation; Glass transition; Secondary ion mass spectrometry; Temperature programmed desorption;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Non-destructive X-ray study of the interphases in Mo/Si and Mo/B4C/Si/B4C multilayers

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 68.35-p; 81.25-t; 78.70.En; 61.10.Kw; 68.49.SfMultilayer interferential mirrors; Diffusion; Molybdenum; Silicon; Silicide; Secondary ion mass spectrometry; X-ray reflectivity; X-ray emission spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Extent of coverage of surfaces treated with hydrophobizing microemulsions: A mass spectrometry and contact angle study

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Surface protection; Hydrophobizing microemulsions; Surface analysis; Secondary ion mass spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

ToF-SIMS studies of the adsorption of epoxy resin molecules on organosilane-treated aluminium: Adsorption kinetics and adsorption isotherms

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Epoxides, primers and coupling agents; Aluminium and alloys; Secondary ion mass spectrometry; Adsorption isotherms

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Lifetimes of organic photovoltaics: Using TOF-SIMS and 18O2 isotopic labelling to characterise chemical degradation mechanisms

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Organic photovoltaics; Polymer photovoltaics; Lifetimes; Oxygen isotopic labelling; Secondary ion mass spectrometry; TOF-SIMS; Degradation mechanism

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 15 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

CONCH: A Visual Basic program for interactive processing of ion-microprobe analytical data

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; SIMS; SHRIMP; Isotope analysis; Radiometric age; Geochronology; Data reduction; Visual Basic

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 20 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Thermal redistribution of hydrogen and boron in SiO2 in SiN-capped p-type MOSFET structures

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 66.30.Jt; 61.72.Ss; Boron penetration; Diffusivity; Secondary ion mass spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Low energy RBS and SIMS analysis of the SiGe quantum well

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 68.49.Sf; 82.80.Ms; 82.80.Yc; 73.21.Fg; 68.18.−g; 68.47.Pe; Secondary ion mass spectrometry; SIMS; Low energy Rutherford backscattering; RBS; Quantum well; Ge-δ-layer;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Low energy electron induced X-ray emission spectrometry (LEXES) and secondary ion mass spectrometry (SIMS) sensitivity studies to ultra shallow arsenic implants

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 42.62.Eh; Arsenic; Ion implantation; Metrology; Low energy electron induced X-ray emission spectrometry; Secondary ion mass spectrometry; Angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Multi-ion emission from large and massive keV cluster impacts

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Gold clusters; Secondary ion mass spectrometry; Intact molecules; Multi-ion emission;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Activation of binary Zr-V non-evaporable getters: synchrotron radiation photoemission study

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 81.65.Tx; 81.05.3x; 81.15.Cd; 82.65.Pa; 82.80.Ms; 82.80.Pv; Zirconium; Vanadium; Alloys; Photoelectron spectroscopy; Secondary ion mass spectrometry; Getters;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

XPS and SIMS investigation on the role of nitrogen in Si nanocrystals formation

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Chemical vapor deposition; Photoelectron spectroscopy; Secondary ion mass spectrometry; Oxidation; Nitrogen atom; Silicon oxides; Clusters; Insulating films; Si-nanocrystals;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Range evaluation in SIMS depth profiles of Er-implantations in silicon

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 81.70.Jb; 82.80.Ms; 79.20.Rf; 68.55.Ln; SIMS; Secondary ion mass spectrometry; Implantation; Sputter rate; Profile depth;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Investigation on boron transient enhanced diffusion induced by the advanced P+/N ultra-shallow junction fabrication processes

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 52.77.Dq; 61.72.Tt; Plasma doping; P+/N ultra-shallow junctions; Boron; Transient enhanced diffusion; Ultra-low energy implanter; Secondary ion mass spectrometry; Buried marker-layers;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Characterisation of erbium-erbium oxide bilayer structures deposited on GaSb substrates by electron beam evaporation

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 07.75+h; 61.72 Ss; 61.72 Vv; Gallium antimonide; Secondary ion mass spectrometry; Rutherford backscattering;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Modeling keV particle interactions with molecular and polymeric samples

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 34.10.+x; 34.20.−b; 34.50.−s; 36.40.Qv; 61.80.Jh; 61.80.Lj; 61.82.Pv; 68.35.Ja; 68.49.−h; 79.20.Ap; 79.20.Rf; Sputtering; Particle-induced desorption; Molecular dynamics; Polymer; Molecular solid; Radiation damage; Molecular emission; Secondary ion

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Secondary ion emission from Ti, V, Cu, Ag and Au surfaces under KeV Cs+ irradiation

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 61.72.S; 81.70.J; 82.80.M; 73.30; 73.20.M; Ion-solid interactions; Electron transfer; Secondary ion mass spectrometry; Work function measurements; Collective oscillations;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Isotope ratio measurements by secondary ion mass spectrometry (SIMS) and glow discharge mass spectrometry (GDMS)

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Glow discharge mass spectrometry, Isotope ratios; Geology; Environment;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 14 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Secondary ion mass spectrometry measurements of isotopic ratios: correction for time varying count rate

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Drift correction; Isotopic ratio; Interpolation; Secondary ion mass spectrometry; Temporal variation; Uncertainty analysis;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 14 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Advanced analytical techniques: platform for nano materials science

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Auger emission spectrometry; Secondary ion mass spectrometry; Nanotechnology;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 14 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Identification of chemical compounds

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; APCI; Atmospheric pressure chemical ionization; CAS; Chemical Abstracts Service; CE; Collision energy; CI; Chemical ionization; DNA; Deoxyribonucleic acid; EC; European Communities; EI; Electron ionization; EPA; Environmental Protection Agency; ESI; Elect

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 16 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه