دانلود مقالات ISI درباره طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه + ترجمه فارسی

Impurity diffusion of Hf and Zr in Gd-doped CeO2

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Ceria; Secondary Ion Mass Spectrometry; Bulk diffusion; Grain boundary diffusion; Hafnium; Zirconium;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

Hydrogen trapped at intermetallic particles in aluminum alloy 6061-T6 exposed to high-pressure hydrogen gas and the reason for high resistance against hydrogen embrittlement

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; High-pressure hydrogen gas; Aluminum alloy; Secondary ion mass spectrometry; Thermal desorption analysis; Intermetallic particle;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

The initial 41Ca/40Ca ratios in two type A Ca-Al-rich inclusions: Implications for the origin of short-lived 41Ca

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Meteorites, meteors, meteoroids; Secondary ion mass spectrometry; Short-lived radionuclides;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 13 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

Muscovite single layer resolution: Secondary ion mass spectrometry depth profile

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Sub-nanometer depth profile; Muscovite; Fourier transform; Time period and chirp rate;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Nucleation and growth of CBD-CdS thin films on ultrathin aluminium layers and annealing induced doping

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; CdS; Chemical bath deposition; Doping; Secondary ion mass spectrometry; Scanning electron micrograph

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Ion milling-induced micrometer-sized heterogeneities and partial crystallization in a TiZrCuFeBe bulk metallic glass

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Metallic glasses; Glass transition and crystallization; Transmission electron microscopy; Irradiation effects; Ion-beam methods; Secondary ion mass spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

3D Auger quantitative depth profiling of individual nanoscaled III-V heterostructures

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 81.05.Ea; 81.07.St; 68.65.Fg; 68.37.Xy; MOSFETs; metal oxide semiconductor field effect transistors; QWFETs; quantum well field effect transistors; QW; quantum well; RSFs; relative sensitivity factors; AES; Auger electron spectroscopy; SIMS; secondary ion

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Abundance of 60Fe inferred from nanoSIMS study of QUE 97008 (L3.05) chondrules

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; iron-60 in meteorites; chondrules; short-lived nuclides; early Solar system; secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Analyzing nitrogen in natural and synthetic silicate glasses by secondary ion mass spectrometry

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Nitrogen cycling; Melt inclusions; Explosive volcanism;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 13 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

High resolution I/Ca ratios of benthic foraminifera from the Peruvian oxygen-minimum-zone: A SIMS derived assessment of a potential redox proxy

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; ICP-MS; inductively coupled plasma mass spectrometry; [O2]BW; bottom water oxygen concentration; OMZ; oxygen minimum zone; SIMS; secondary ion mass spectrometry; I/Ca; Benthic foraminifera; Peruvian OMZ; SIMS; Redox proxy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 14 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Chemical and oxygen isotope composition of gem-quality apatites: Implications for oxygen isotope reference materials for secondary ion mass spectrometry (SIMS)

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Apatite; Oxygen isotope; Secondary ion mass spectrometry; Durango;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 15 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Small molecule MALDI MS imaging: Current technologies and future challenges

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; MSI; Mass Spectrometry Imaging; IMS; Ion Mobility Separation; LDI; Laser Desorption/Ionization; MALDI; Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization; SIMS; Secondary Ion Mass Spectrometry; DESI; Desorption Electrospray Ionization; TOF; Time-Of-Flight; LAMMA

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 15 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Andromede project: Surface analysis and modification with probes from hydrogen to nano-particles in the MeV energy range

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; MeV SIMS; Cluster SIMS; ECR; LMIS; Nano-particles; Mass spectrometry; Ion beam analysis; Secondary ion mass spectrometry; Surface modification; Ion source; Accelerator

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2015 سفارش ترجمه

Quantification of nitrogen impurity and estimated Orowan strengthening through secondary ion mass spectroscopy in aluminum cryomilled for extended durations

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Aluminum alloy; Cryomilling; Nitrogen; Orowan strengthening; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2015 سفارش ترجمه

Selective biomolecular photocatalytic decomposition using peptide-modified TiO2 nanoparticles

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; SBP; streptavidin binding peptide; FTIR; fourier transform infrared spectroscopy; SIMS; secondary ion mass spectrometry; PDMS; polydimethylsiloxane; PBS; phosphate buffered saline; BSA; bovine serum albumin; Photocatalysis; TiO2; Surface modification; Aff

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2015 سفارش ترجمه

Re-print of “Sputtering of polymers by keV clusters: Microscopic views of the molecular dynamics”

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Cluster; Computer simulations; Molecular dynamics; Sputtering; Molecular depth profiling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2015 سفارش ترجمه

K+ accumulation in the cytoplasm and nucleus of the salt gland cells of Limonium bicolor accompanies increased rates of salt secretion under NaCl treatment using NanoSIMS

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; DAPI; 4′,6-diamidino-2-phenylindole; DM; dry mass; FS; freeze substitution; HPF; high-pressure freezing; LSCM; laser scanning confocal microscope; MRP; mass resolving power; NMT; non-invasive micro-test technology; PPFD; photosynthetic photon flux densi

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 25 صفحه سال انتشار : 2015 سفارش ترجمه

In vitro and in vivo genotoxicity investigations of differently sized amorphous SiO2 nanomaterials

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; AAN; average agglomeration number; AUC; analytical ultracentrifugation; BALF; bronchoalveolar fluid; BW; body weight; CFA; colony forming ability; CPH; centrophenoxine; DLS; dynamic light scattering; DMEM; Dulbecco's Modified Eagle Medium; EMS; ethyl me

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 64 صفحه سال انتشار : 2015 سفارش ترجمه

Growth of CdS thin films on indium coated glass substrates via chemical bath deposition and subsequent air annealing

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; CdS; Chemical bath deposition; Grain boundary segregation; Secondary ion mass spectrometry; Photosensitivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2014 سفارش ترجمه

High-pressure cold gas dynamic (CGD)-sprayed alumina-reinforced aluminum coatings for potential application as space construction material

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Alumina–aluminum MMC coatings; Cold gas dynamic spraying; Atomic oxygen plasma; Thermal conductivity; Thermal optical properties; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2014 سفارش ترجمه

Electrical and physical properties of 4H-SiC MOS interface with electron cyclotron resonance microwave nitrogen plasma post-oxidation annealing

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; SiC; SiO2/SiC interface; Electron cyclotron resonance microwave nitrogen plasma post-oxidation annealing; Density of interface traps; Secondary ion mass spectrometry; X-ray photoelectron spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2014 سفارش ترجمه

Secondary ion mass spectrometry and photoluminescence study on microstructural characteristics of chemically synthesized ZnO nanowalls

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 78.55.Et; 78.67.−n; 79.20.Rf; 68.49.Sf; ZnO; Nanostructures; Photoluminescence; Secondary ion mass spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2014 سفارش ترجمه

ToF-SIMS as a versatile tool to study the surface properties of silica supported cobalt catalyst for Fischer–Tropsch synthesis

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Cobalt catalyst; Co/SiO2; Cobalt silicate; Fischer–Tropsch synthesis

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2014 سفارش ترجمه

Sputtering of polymers by keV clusters: Microscopic views of the molecular dynamics

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Cluster; Computer simulations; Molecular dynamics; Sputtering; Molecular depth profiling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2014 سفارش ترجمه

Fossil records of high level of 60Fe in chondrules from unequilibrated chondrites

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; iron-60 in meteorites; chondrules; short-lived nuclides; early Solar System; secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2014 سفارش ترجمه

Accurate analysis of shallowly implanted solar wind ions by SIMS backside depth profiling

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Genesis mission; Solar wind analysis; Secondary ion mass spectrometry; Backside depth profiling; Ion implantation;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 13 صفحه سال انتشار : 2014 سفارش ترجمه

Electrical property relaxation characteristics of UV-treated ZnO-based thin film transistors

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Zinc oxide; Transparent thin film transistor; Ultraviolet treatment; Charge trapping; Oxygen vacancy ionization; X-ray photoelectron spectroscopy; Secondary ion mass spectrometry; Ultraviolet photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Synthesis of Al2O3 thin films using laser assisted spray pyrolysis (LASP)

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Laser assisted spray pyrolysis; Ellipsometry; Amorphous Al2O3 thin films; Secondary ion mass spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

B content and Si/C ratios from cultured diatoms (Thalassiosira pseudonana and Thalassiosira weissflogii): Relationship to seawater pH and diatom carbon acquisition

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; SDV; silicon deposition vesicle; STV; silicon transport vesicle; LA-ICPMS; laser-ablation inductively coupled mass spectrometry; SIMS/Ion probe; secondary ion mass spectrometry; CCM; carbon concentration mechanisms; CCF; carbon concentration factor;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 16 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Precursors as enablers of ALD technology: Contributions from University of Helsinki

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; acac; acetylacetonate; ALD; atomic layer deposition; CET; capacitance equivalent thickness; CHT; cycloheptatrienyl; CHD; cyclohexadiene; CMOS; complementary metal oxide semiconductor; CN; coordination number; Cp; cyclopentadienide; COD; cyclooctadiene; CV

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 26 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry as a novel method for surface characterization of carbonaceous material formed during thermochemical conversion of cellulose

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; ToF-SIMS; Secondary ion mass spectrometry; Pyrolysis; Biomass conversion; Cellulose; Solid residue

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

SIMS analysis on austenitic stainless steel: The influence of type of oxide surface layer on hydrogen embrittlement

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Hydrogen embrittlement; Austenitic stainless steel; Secondary ion mass spectrometry; Oxide layer; Strain-induced martensite;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Chemical changes exhibited by latent fingerprints after exposure to vacuum conditions

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Fingerprint; SIMS; MALDI; Vacuum metal deposition; Ageing; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Evaluation of C60 secondary ion mass spectrometry for the chemical analysis and imaging of fingerprints

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Latent fingerprint; Secondary ion mass spectrometry; Chemical imaging

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

SIMS of thin films grown by pulsed laser deposition on isotopically labeled substrates

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Thin film; Oxygen ion diffusion; Secondary ion mass spectrometry; Pulsed laser deposition; Strontium titanate; Yttria stabilized zirconia

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

A CoOx/carbon double-layer thin film air electrode for nonaqueous Li-air batteries

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Cobalt oxide/double layer electrode; Lithium air batteries; Charge–discharge profiles; Cycle ability; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Improving high-capacity Li1.2Ni0.15Mn0.55Co0.1O2-based lithium-ion cells by modifiying the positive electrode with alumina

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Lithium-ion; Atomic layer deposition; Al2O3; Coating; Secondary ion mass spectrometry; Layered oxide

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Mechanism of MCs+ formation in Cs based secondary ion mass spectrometry

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; SIMS; Matrix effects; MCs+ emission; Cs loading;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Localisation of iron in wheat grain using high resolution secondary ion mass spectrometry

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Iron; Wheat; Secondary ion mass spectrometry; Phytate

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Mechanisms responsible for inducing and balancing the presence of Cs adatoms in dynamic Cs based SIMS

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Cs bombardment; Adatom formation; Bond strength

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Parallel detection, quantification, and depth profiling of peptides with dynamic-secondary ion mass spectrometry (D-SIMS) ionized by C60+–Ar+ co-sputtering

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Cluster ion; Co-sputtering; Depth profile

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Composition profiles and adhesion evaluation of conductive diamond coatings on dielectric ceramics

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Boron doping; Nanocrystalline diamond; Silicon nitride; Secondary ion mass spectrometry; Adhesion;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Enhanced oxygen exchange and incorporation at surface grain boundaries on an oxide ion conductor

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Grain boundary; Yttria stabilized zirconia; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

A selective metabolite array for the detection of phosphometabolites

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Metal affinity; Metabolomics; Phosphate; Secondary ion mass spectrometry; Metabolite profiling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

In situ oxygen isotope micro-analysis of faunal material and human teeth using a SHRIMP II: a new tool for palaeo-ecology and archaeology

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Oxygen isotopes; Micro-analysis; Palaeo-ecology; Archaeology; Sensitive High Resolution Ion MicroProbe; Secondary ion mass spectrometry; Tooth enamel; Otolith;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Mass spectrometry imaging and profiling of single cells

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Matrix assisted laser desorption/ionization; Subcellular profiling; Elemental imaging; Mass cytometry; Tissue imaging

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 16 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Mapping of phospholipids by MALDI imaging (MALDI-MSI): realities and expectations

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; 9-AA; 9-aminoacridine; ALI; acute lung injury; CA; cornu ammonis; CCI; controlled cortical impact; Cer; ceramide; CL; cardiolipin; CNS; central nervous system; DAG; diacylglycerol; DESI; desorption electrospray ionization; DHA; docosahexaenoic acid; DHB;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 18 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Methane plasma-based ion implantation of metallic and galvanically oxidized tantalum

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Tantalum; Carbide; Methane plasma; Plasma based ion implantation; Secondary ion mass spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Accurate in situ calibration of the energy bandwidth and the zero-energy offset in SIMS analysis using magnetic sector field instruments

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Secondary ion mass spectrometry; Energy bandwidth; Energy offset; Gas-phase ionization

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Solid state field-assisted diffusion of silver in multi-component tellurite glasses

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویه; Tellurite glass; Solid state diffusion; Secondary ion mass spectrometry; Ellipsometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه