کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7748222 | 1498754 | 2013 | 26 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Precursors as enablers of ALD technology: Contributions from University of Helsinki
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
CyclooctadieneGSTSBTAcAcCHDFODMMPHFACCHTMOCVDDRAMPCRAMPEALDCycloheptatrienylTriglymeDMAECyclopentadienideDynamic random access memorytriethylene glycol dimethyl etherFESEMPIVTGAHRTEMEDSTHFSOFCDiglymeFRAM - FORWARDEOT - ROTALD - آدرنولکودیستروفیStrontium bismuth tantalate - استرونتیوم بیسموت تانتالاتacetylacetonate - استیل ساتوناتIridium - ایریدیمCET - اینBismuth - بیسموتTetrahydrofurane - تتراهیدروفورانThermo gravimetric analysis - تجزیه گرما گرماسنجیmetal oxide semiconductor field effect transistor - ترانزیستور اثر میدان نیمه هادی فلز اکسیدtriethylenetetraamine - تری اتیل تترآمینtris(pyrazolyl)borate - تریس (پیرازولیل) بوراتTrien - تینPhase change memory - حافظه تغییر فازFerroelectric random access memory - حافظه دسترسی تصادفی فدرالDiethylenetriamine - دی اتیلنتریمینmetal organic chemical vapour deposition - رسوب بخار شیمیایی فلزات آلیCVD - رسوب دهی شیمیایی بخار Atomic layer deposition - رسوب لایه اتمیChemical vapour deposition - رسوبات بخار شیمیاییdien - روزsolid oxide fuel cell - سلول سوختی اکسید جامدCMOS - سیماس یا نیمرسانای اکسید فلزی مکمل SIMS - سیمزCyclohexadiene - سیکلو هگزادیدینCoordination number - شماره هماهنگیEquivalent oxide thickness - ضخامت اکسید معادلsecondary ion mass spectrometry - طیف سنجی جرم یونی ثانویه یا طیف نگاری جرم یونی ثانویهMass spectroscopy - طیف سنجی جرمیenergy dispersive spectrometry - طیف سنجی پراکنده انرژیAlkaline earth metals - فلزات قلیایی زمینSEM - مدل معادلات ساختاری / میکروسکوپ الکترونی روبشیHigh-k materials - مواد با کیفیت بالاcomplementary metal oxide semiconductor - مکمل اکسید فلز نیمه رساناMOSFET - مگسscanning electron microscope - میکروسکوپ الکترونی اسکنHigh Resolution Transmission Electron Microscopy - میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالاField Emission Scanning Electron Microscope - میکروسکوپ الکترونی خروجی اسکن الکترونیکSilver - نقرهHexafluoroacetylacetonate - هگزافلوراکتیل اتئوناتPlasma enhanced atomic layer deposition - پلاسما رسوبات لایه اتمی را افزایش دادpivalate - پویولاCod - کادوGroup 4 metals - گروه 4 فلزات
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی معدنی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The review focuses on ALD precursors of selected elements such as alkaline earth (Mg, Ca, Sr, Ba), group 4 metals, bismuth, silver, iridium, selenium, tellurium and antimony. These elements are needed in different high tech applications but are challenging for ALD. Their precursor design needs careful balancing between volatility, thermal stability and reactivity-the key properties of ALD precursors. The extensive studies showed that cyclopentadienyl based precursors of alkaline earth metals are versatile ALD precursors which react with both water and ozone forming oxide. Group 4 ALD chemistry has been studied very widely and many good precursors have been found for the oxide ALD. From a bunch of different compound types studied the most promising ALD precursor for bismuth is Bi(OCMe2iPr)3 which shows stable ALD process with water at 150-250 °C. The success in depositing noble metal films by ALD can be attributed more to the reactant rather than the metal precursor. Ru, Pt, Ir, Rh and Os films can be deposited from various organometallic and metal organic precursors using O2 as the other precursor. Typically temperatures above 225 °C are needed. Using O3 as a reactant films can be deposited at lower temperatures. Noble metal oxides are obtained below approx. 200 °C and metallic films above that. By supplying both O3 and H2 as consecutive pulses, noble metal films can be deposited well below 200 °C. For silver phosphine stabilized carboxylato and β-diketonato complexes are thermally stable enough enabling hydrogen plasma enhanced ALD of silver metal films. Alkylsilyl compounds of selenium and tellurium are versatile ALD precursors for metal selenide and telluride films when combined with metal chloride precursors. The use of alkylsilyl compounds is not limited to group 16 elements but can also been used for group 15.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Coordination Chemistry Reviews - Volume 257, Issues 23â24, December 2013, Pages 3297-3322
Journal: Coordination Chemistry Reviews - Volume 257, Issues 23â24, December 2013, Pages 3297-3322
نویسندگان
Timo Hatanpää, Mikko Ritala, Markku Leskelä,