کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6472915 | 1424138 | 2016 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Identification of Resistivity Distributions in Dielectric Layers by Measurement Model Analysis of Impedance Spectroscopy
ترجمه فارسی عنوان
شناسایی توزیع های مقاومت در لایه های دی الکتریک با استفاده از تحلیل مدل اسپکتروسکوپ امپدانس
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی شیمی
مهندسی شیمی (عمومی)
چکیده انگلیسی
The Voigt measurement model, developed in the 1990s for identification of the error structure of impedance measurements, is shown here to have utility in identifying resistivity distributions that give rise to frequency dispersion. The analysis was validated by application to synthetic data derived from a constant-phase-element model, a power-law distribution of resistivity, and an exponential distribution corresponding to a Young impedance. The application to experimental data obtained from coated aluminum demonstrates its utility for interpretation of impedance measurements.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Electrochimica Acta - Volume 219, 20 November 2016, Pages 312-320
Journal: Electrochimica Acta - Volume 219, 20 November 2016, Pages 312-320
نویسندگان
Yu-Min Chen, Anh Son Nguyen, Mark E. Orazem, Bernard Tribollet, Nadine Pébère, Marco Musiani, Vincent Vivier,