کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6661759 1426556 2018 11 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Double layer effects in voltammetric measurements with scanning electrochemical microscopy (SECM)
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی شیمی مهندسی شیمی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Double layer effects in voltammetric measurements with scanning electrochemical microscopy (SECM)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electroanalytical Chemistry - Volume 819, 15 June 2018, Pages 240-250
نویسندگان
, , ,