کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
669980 | 1458760 | 2012 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Quantitative temperature profiling through null-point scanning thermal microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی شیمی
جریان سیال و فرایندهای انتقال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Quantitative temperature profiling through null-point scanning thermal microscopy Quantitative temperature profiling through null-point scanning thermal microscopy](/preview/png/669980.png)
چکیده انگلیسی
We develop and demonstrate the theory and method of null-point scanning thermal microscopy, which can obtain quantitative temperature profiles even when the heat conductance between the tip and the sample is disturbed due to abrupt changes in the surface topography or properties. Due to its generality, it would be widely applicable for a variety of problems associated with the thermal characterization of nanomaterials and nanodevices.
► We develop the null-point scanning thermal microscopy (NP SThM).
► NP-SThM profile temperature quantitatively, independent of tip-sample conductance.
► Due to its generality, NP SThM can be widely applicable in nano engineering.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: International Journal of Thermal Sciences - Volume 62, December 2012, Pages 109–113
Journal: International Journal of Thermal Sciences - Volume 62, December 2012, Pages 109–113
نویسندگان
J. Chung, K. Kim, G. Hwang, O. Kwon, Y.K. Choi, J.S. Lee,