کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6741054 504389 2013 13 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A critical flaw size approach for predicting the strength of bolted glass connections
ترجمه فارسی عنوان
یک روش اندازه گیری نقص بحرانی برای پیش بینی قدرت اتصالات شیشه ای پیچیده
کلمات کلیدی
ترجمه چکیده
استفاده از اتصالات پیچ و مهره در تاسیسات شیشه معمولی در معماری معاصر است. با این وجود، با توجه به عوامل متعددی که بر قدرت شیشه در منطقه سوراخ پیچ و مهره تاثیر می گذارند، توانایی باربری این اتصالات دشوار است: وضعیت استرس پیچیده، استحکام ذاتی شیشه و مقدار استرس های گرما باقی مانده. این مقاله رویکرد اندازه نقص انتقادی را برای اتصالات پیچیده ارائه می دهد. این رویکرد از یک مدل خنثی سازی عددی و تجزیه و تحلیل عنصر نهایی خطی برای تعیین اندازه نقاط بحرانی اطراف حفره پیچ استفاده می کند، از آزمایش های مخرب بر روی اجزای شیشه ای پیچیده تحت بارگذاری در هواپیما. اندازه ضایعات بحرانی تعیین شده توسط این روش با اندازه ضعف های حاصل از میکروسکوپ نوری موافق است. این ضایعات از این قرار است که منحنی های پیش بینی در طول عمر برای اتصالات پیچیده که برای برنامه های دنیای واقعی مفید هستند، مورد استفاده قرار گیرد.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه علوم زمین و سیارات مهندسی ژئوتکنیک و زمین شناسی مهندسی
چکیده انگلیسی
The use of bolted connections in glass installations is common place in contemporary architecture. However, it is difficult to predict the load bearing capacity of these connections accurately due to the several factors that influence the strength of glass in the region of the bolt hole, namely: the complex stress state, the inherent strength of glass and the magnitude of residual thermal stresses. This paper proposes a critical flaw size approach for bolted connections. The approach uses a numerical tempering model and nonlinear finite element analysis to determine the sizes of the critical flaws around the bolt hole, from destructive tests on bolted glass components subjected to in-plane loading. The critical flaw sizes determined by this approach agree with the flaw sizes obtained from optical microscopy. These flaw sizes are subsequently used to plot lifetime prediction curves for the bolted connections that are useful for real-world applications.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Engineering Structures - Volume 57, December 2013, Pages 87-99
نویسندگان
, , ,