کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6942843 | 1450327 | 2016 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Nonlinearity analysis of TaOX redox-based RRAM
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 154, 25 March 2016, Pages 38-41
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 154, 25 March 2016, Pages 38-41
نویسندگان
Wonjoo Kim, Bernd Rösgen, Thomas Breuer, Stephan Menzel, Dirk Wouters, Rainer Waser, Vikas Rana,