کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6943053 | 1450334 | 2015 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
SrTiOx for sub-20Â nm DRAM technology nodes-Characterization and modeling
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 147, 1 November 2015, Pages 126-129
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 147, 1 November 2015, Pages 126-129
نویسندگان
B. Kaczer, L. Larcher, L. Vandelli, H. Reisinger, M. Popovici, S. Clima, Z. Ji, S. Joshi, J. Swerts, A. Redolfi, V.V. Afanas'ev, M. Jurczak,