کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6943080 1450334 2015 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In-depth low frequency noise evaluation of substrate rotation and strain engineering in n-type triple gate SOI FinFETs
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
In-depth low frequency noise evaluation of substrate rotation and strain engineering in n-type triple gate SOI FinFETs
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 147, 1 November 2015, Pages 92-95
نویسندگان
, , , , , ,