کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6943089 1450334 2015 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Analysis of Set and Reset mechanisms in Ni/HfO2-based RRAM with fast ramped voltages
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Analysis of Set and Reset mechanisms in Ni/HfO2-based RRAM with fast ramped voltages
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 147, 1 November 2015, Pages 176-179
نویسندگان
, , , , , , , , ,