کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6943161 1450334 2015 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Impact of back interface passivation on electrical properties of ultrathin-body Germanium-on-insulator (GeOI) MOSFETs
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Impact of back interface passivation on electrical properties of ultrathin-body Germanium-on-insulator (GeOI) MOSFETs
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 147, 1 November 2015, Pages 196-200
نویسندگان
, , , , , ,