کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6943229 1450334 2015 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Hole trapping at hydrogenic defects in amorphous silicon dioxide
ترجمه فارسی عنوان
سوراخ در نقایص هیدروژئیک در دی اکسید سیلیکون آمورف
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش مقاله
سوراخ در نقایص هیدروژئیک در دی اکسید سیلیکون آمورف
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 147, 1 November 2015, Pages 141-144
نویسندگان
, , , , ,