کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6943308 | 1450340 | 2015 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Three-dimensional nanometrology of microstructures by replica molding and large-range atomic force microscopy
ترجمه فارسی عنوان
سه بعدی نانومترلوژی میکروسیستمهای با استفاده از قالب سازی ماکسیما و میکروسکوپ نیروی اتمی بزرگ
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
ریز ساختار نسبتا بالا نسبت، میکروسکوپ نیروی اتمی، قالب سازی تکمیلی، اشعه ایکس،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 141, 15 June 2015, Pages 6-11
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 141, 15 June 2015, Pages 6-11
نویسندگان
Frederik Stöhr, Jonas Michael-Lindhard, Hugh Simons, Henning Friis Poulsen, Jörg Hübner, Ole Hansen, Joergen Garnaes, Flemming Jensen,