کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6943308 1450340 2015 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Three-dimensional nanometrology of microstructures by replica molding and large-range atomic force microscopy
ترجمه فارسی عنوان
سه بعدی نانومترلوژی میکروسیستمهای با استفاده از قالب سازی ماکسیما و میکروسکوپ نیروی اتمی بزرگ
کلمات کلیدی
ریز ساختار نسبتا بالا نسبت، میکروسکوپ نیروی اتمی، قالب سازی تکمیلی، اشعه ایکس،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 141, 15 June 2015, Pages 6-11
نویسندگان
, , , , , , , ,