| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن | 
|---|---|---|---|---|
| 6943505 | 1450344 | 2015 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان | 
عنوان انگلیسی مقاله ISI
												In-line process monitoring of advanced packaging process using Focused Beam Ellipsometry
												
											دانلود مقاله + سفارش ترجمه
													دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
																																												موضوعات مرتبط
												
													مهندسی و علوم پایه
													مهندسی کامپیوتر
													سخت افزارها و معماری
												
											پیش نمایش صفحه اول مقاله
												 
												ناشر
												Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 137, 2 April 2015, Pages 111-116
											Journal: Microelectronic Engineering - Volume 137, 2 April 2015, Pages 111-116
نویسندگان
												Parker Huang, YiYen Liu, Jay Chao, Chun Hung Lu, Stephen Chen, Jay Chen, Fei Shen, Jian Ding, Priya Mukundhan, Timothy Kryman,