کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6943505 | 1450344 | 2015 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In-line process monitoring of advanced packaging process using Focused Beam Ellipsometry
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 137, 2 April 2015, Pages 111-116
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 137, 2 April 2015, Pages 111-116
نویسندگان
Parker Huang, YiYen Liu, Jay Chao, Chun Hung Lu, Stephen Chen, Jay Chen, Fei Shen, Jian Ding, Priya Mukundhan, Timothy Kryman,